c扫描-北京纳克无损

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    2022-5-27

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超声c扫描检测设备

超声c扫描检测方式通常采用常规超声探头+双轴扫查器的方式,但是随着相控阵超声技术及计算机技术的快速---,诞生了以超声相控阵技术的c扫描检测技术,即超声相控阵多阵元探头+双轴扫查器的方式。相控阵超声c扫描系统具有更高的精度和缺陷检出率,更快的检测速度和更高的图像分辨率等优点,因此其具有更高的发展空间,必定是今后超声c扫描检测的主流。




c扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器

1、r型扫查器:(1)单轴手动编码器,使用方便。(2 )扫查架轻便小巧,探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度,实现缺陷的---、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器,进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的---功能。(3)b-扫描和b-扫描可以提供c-扫描图像---何位置正交两个断面的---信息。相应的a-扫描也可以显示在同一屏幕上。(4)全波形记录功能,可在生成的c-扫描图像上察看任意位置上的a-扫描波形。的检测方法,符合*新版的asme规范要求。(5)定位定量准确。(6)b实时成像。(7)可实现任意一点的波形回放。




纳克无损c扫描检测蓬勃发展

今年纳克无损在无损计量校准及评价业务板块继续加大投入,与基础建设(nqi)---相适应,不断扩充校准设备及校准能力。主要涉及无损检测仪器、探头、对比试样的校准服务和为国内企业提供各类自动化无损检测系统综合性能的测试、评价和服务。

随着无损检测技术发展,不断涌现出新的无损检测仪器(比如:相控阵、tofd、空气耦合等)和检测方法(红外检测、超声应力测试等),为了解决测量的准确性,超声c扫描机构,需要对其进行计量校准,纳克不断扩充校准规范,不仅局限于检定规程和校准规范,还扩充了iso/en/astm等标准,进一步扩大能力范围.





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