对比试样校准机构-对比试样校准-纳克

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    2023-8-19

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对比试样校准原理

1. 复型测量法  一种间接的测量方法,通过将可塑性材料充满在人工缺陷内,经过凝固成型后取出,对比试样校准机构,直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌,取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、---测量,获 得人工缺陷的尺寸数据。  

2. 显微测量法  直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后,以光学成像或---方法---边缘轮廓或表面,通过x、y、z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、---及通孔的直径。






对比试样校准根据测量原理分类

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高  

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。  

3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。  

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。  

5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万rmb以上),适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。






对比试样校准测量前的准备 

1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或c?h?o进行清洗,用滤纸擦干,保持表面清洁,无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。  

2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(---时使用合适的工装予以固定),调整试样,对比试样校准公司,使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的x或y轴平行。

3. 显微镜在合适的明场条件下,对比试样校准,先用低放大倍数(10×或20×)找到人工缺陷位置,再换---放大倍数对试样---,调整载物台及试样,使人工缺陷处于视场中央。  调整测量设备,使测量面---清晰,选择测量点位。






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