· 晶元面处脱层 · 锡球、晶元、或填胶中之裂缝 · 晶元倾斜 · 各种可能之孔洞(晶元接合面、锡球、填胶…等) · 覆晶构装之分析 德国ksi声扫描显微镜c-sam(sat)---的机器 winsam vario iii 声扫描显微镜 1~500mhz ● 非破坏性材料内部结构测试 ● 快速的超声波频率设置 ● 全新的操作软件简单易用 ● 紧凑的模块化设计 ● 广泛应用于半导体工业,材料测试,生命科学等领域 非破坏性失效分析: 视觉效果 定量分析 自动控制 -3d形貌再现 -同时观察多个层面 -显示样品的机械性能(硬度,长材c扫描公司,密度,压力等) -实时超声波飞时图表(a-scan) -纵向截面图像(b-scan) -xy图像(c-scan, d-scan, 自动扫描, 多层扫描) -第二个---便于图像的观察和操作 -失效统计 -柱状图显示 -长度测量 -膜厚测量 -多方式图像处理 -超声波传输时间测量 -无损伤---测量 -数字信号分析 -相位测量 -自动xyz扫描 -自动存储仪器参数 -运用分层运算方法进行自动失效鉴别 -自动滤波参数设置 -换能器自动--- -高分辨率下自动进行高速扫描
超声c型扫描显示,简称c扫,即特定---扫描模式,从显示方式看是二维平面显示,用平面上不同的颜色来反映波幅高度或不同的厚度信息。c扫的图像实际是由探头扫描路径的每一组b扫图像组合而成,因此c扫成像平面与b扫成像平面是互相垂直的。在c型扫描成像中,探头不但要沿x方向扫描,而且还要沿y方向扫描,长材c扫描,即面扫描(二维扫描),而不是线扫描(一维扫描)。为获得某一与声束轴线垂直的断面在z=z0的图像,扫描声束应---于该平面;改变扫描声束---的平面,即可获得物体不同---的c扫截面图像。
超声 c 扫检测本质上是在常规超声 a 扫检测基础上利用电子---门记录反射回波信号,通过接收电路放大后在示波屏上显示,长材c扫描机构,当探头对工件进行整体扫查后,即可得到工件内部缺陷或界面的俯视图。c 扫图像可以直接反映工件内部与声束垂直方向上缺陷的二维形状与分布,通过不同的颜色标示缺陷的埋藏---。
超声c扫描系统组成上可以分为软件和硬件两大部分,软件部分主要是超声信号处理和探头运动控制程序,包括超声采集卡驱动程序,pmac运动控制卡驱动程序,超声信号处理程序,伺服运动控制程序等;硬件部分主要实现探头的自动扫查,由上位机、超声采集卡,pmac运动控制卡、伺服单元、探头及其夹持装置、工件固定装置、伺服电机、机架主体以及相关的电气设备和传动设备组成。
长材c扫描-长材c扫描-纳克(查看)由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司拥有---的服务与产品,不断地受到新老用户及业内人士的肯定和---。我们公司是商盟会员,---页面的商盟图标,可以直接与我们人员对话,愿我们今后的合作愉快!
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
本文链接:https://tztz330517.zhaoshang100.com/zhaoshang/279589252.html
关键词: