致使涂层测厚仪示值显现不稳定的要素主要是来自工件本身的资料和构造的---性，比方工件本身是不是为导磁性资料，假如是导磁性资料咱们就要挑选磁性涂层测厚仪，假如工件为导电体，咱们就得挑选涡流涂层测厚仪。再者，校准试样方案，被测件的外表粗糙度和附着物也是致使仪器示值显现不稳定的重要要素，测厚仪的探头对那些阻碍与覆盖层外表紧密触摸的附着物质极其灵敏。有------探头与覆盖层外表直触摸摸。因而，扫除此种毛病的关键即是：测量前铲除被测件触摸面的尘埃、细屑、油脂及腐蚀产物等附着物，但不要除去任何覆盖层物质。再有即是在进行体系调零时，所运用的基体外表也有---是清洗、润滑的。如感受测量成果差错比较大时，请先用仪器装备的塑料校准片做一轮测验，如违背答应差错较远则有也许是仪器本身出了问题，需返厂家检修。在体系校按时没有挑选适宜的基体。基体平面为7mm，小厚度为 0.2mm，低于此临界条件测量是不---的。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，校准试样机构，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，x射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 x射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，校准试样，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或c?h?o进行清洗，用滤纸擦干，保持表面清洁，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(---时使用合适的工装予以固定)，调整试样，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的x或y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下，校准试样，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换---放大倍数对试样---，调整载物台及试样，使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备，使测量面---清晰，选择测量点位。
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