ct检测-ct检测-北京纳克无损

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    2023-11-30

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ct检测发展

一代ct使用单源(一条射线)单探测器系统,系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得n个投影值(1值),被检物则按m个分度作旋转运动,ct检测,被检物仅需转动180%。代ct机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低,在工业ct中已经很少采用。

二代ct是在第代ct基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头,射线扇束角小、探测器数目少,因此扇束不能全包容被检断层,ct检测机构,其扫描运动除被检物作m几个分度旋转外,ct检测报价,射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物,得到所需的成像数据。




ct检测

工业ct检测技术是以x 射线和γ射线作为辐射源的工业ct,其工作原理就是射线检测的原理。计算机层析成像技术使用不同的能量波作为辐射源,其工作原理也有所不同。在工业无损检测中广泛应用的是透射层析成像技术(ict),使用的辐射源多为x射线或y射线,包括低能x 射线或由产生的高能x射线,常用的γ射线同位素则有192ir、137cs 和60co 等。



ct检测射线源

在高能电子束转换为x射线的过程中,仅有小部分能量转换为x射线,大部分能量都转换成了热,焦点尺寸越小,阳极靶上局部功率密度越大,ct检测,局部温度也越高。实际应用的功率是以阳极靶可以长期工作所---受的功率密度确定的。因此,小焦点乃至微焦点的的射线源的使用功率或大电压都要比大焦点的射线源低。电子辐射发生器的共同缺点是x射线能谱的多色性,这种连续能谱的x 射线会引起衰减过程中的能谱硬化,导致各种与硬化相关的伪像。



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